Fáziskontraszt-objektív (Plan40ph) és csúszka LIS-hez

Egy speciális kondenzorból és úgynevezett fáziskontraszt objektívből áll, ezekkel kell a közönséges mikroszkópot kiegészíteni. A fáziskontraszt eljárással kapott kép igen kontrasztos, és ezért különösen jól használható szövettenyészetben az alaphoz letapadt, elvékonyodott sejtek, valamint nagyon vékony (0,1–1 µm) festetlen metszetek vizsgálatára. Segítségével plasztikussá válnak a különböző vastagságú részek, domború hatásúvá válnak a metszetek, lehetőség van különböző vastagságú részletek megkülönböztetésére. A módszer nagyon kényes a pontos centrális beállításra, ezt a blendézett okulár segíti. A módszert, amely a fény fáziseltolódását használja, először a holland Frits Zernike írta le 1934-ben.

Fáziskontraszt vizsgálat:
A megvilágító egység (Köhler féle fényforrás, ötlyukú fáziskontraszt kondenzor és gyűrű-diafragma) rendkívül pontos beállítását igényli. A tárgylemezre különböző irányból érkező (un. vizsgálati és összehasonlító) fényhullámok esnek. A vizsgálati fény a mintán áthaladva annak vastagságától függően, míg az összehasonlító fény a mintától függetlenül csak a (fáziskontraszt objektívben elhelyezett) fázislemezen szenved fáziseltolódást. A két hullámfront erősíti, vagy kioltja egymást, sötét-világos mintázatot (interferenciát) hozva létre. A fáziskontraszt vizsgálathoz leggyakrabban 40x nagyítású fáziskontraszt objektívet használnak.